Subgap Time of Flight as a defect spectroscopy: application to CdTe:Cl radiation detectors IRIS IRIS Home Sfoglia Macrotipologie & tipologie Autore Titolo Riviste Serie IT Italiano Italiano English English LOGIN 1.IRIS 2.SIARI LECCE 3.04 Proceedings (Atti di Congressi) 4.Riassunto di atto di convegno in volume Subgap Time of Flight as a defect spectroscopy: application to CdTe:Cl radiation detectors POUSSET, JEREMY;FARELLA, ISABELLA; GAMBINO, SALVATORE 2016-01-01 Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC) Anno 2016 ISBN 978-1-78561-268-8 Appare nelle tipologie: Riassunto di atto di convegno in volume File in questo prodotto: Non ci sono file associati a questo prodotto. I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione. Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11587/407128 …